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J-GLOBAL ID：201302200681124865   整理番号：13A0831163

EMI耐性が高い新しいMagFET型集積回路電流センサ

A new MagFET-based integrated current sensor highly immune to EMI

著者 (2件)： AIELLO Orazio (Microelectronics EMC Group, Eln. Dpt., Politecnico di Torino, C.so Duca degli Abruzzi 24, 10128 Turin, ITA) ,  FIORI Franco (Microelectronics EMC Group, Eln. Dpt., Politecnico di Torino, C.so Duca degli Abruzzi 24, 10128 Turin, ITA)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 53  号： 4  ページ： 573-581  発行年： 2013年04月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本文は,電力デバイスの電流を監視するために使用する集積回路の無線周波干渉感受性を取扱う。まず,商用デバイスで一般的に使用するミラーリング原理に基づく回路を検討し,更にHall効果に基づく新しいコンタクトレス完全集積化電流センサを提案する。この電流センサの設計を詳細に示し,無線周波干渉に対するその感受性を時間領域シミュレーションにより調べる。この解析の結果を示し,更に従来(ワイヤ型)の電流センサで行った同様な解析から得た結果と比較する。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 電磁干渉 ,  雑音安定度 ,  FET【トランジスタ】 ,  MOS構造 ,  *半導体集積回路 ,  *電流センサ ,  電流源等価回路 ,  パワーエレクトロニクス ,  Hall効果 ,  演算増幅器 ,  回路設計 ,  回路解析 ,  周波数応答

分類 (3件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： EMI ,  耐性 ,  集積回路 ,  電流センサ