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J-GLOBAL ID:201302205731983718   整理番号:13A0824955

電界計測の応用とその新展開 II 残留漏えい磁束探傷法による表面きず検出手法

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資料名:
巻: 61  号:ページ: 464-467  発行年: 2012年09月01日 
JST資料番号: G0027A  ISSN: 0367-5866  CODEN: HIHKA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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鉄鋼材料の溶接部の表面欠陥及び表面近傍のき裂などのきず(不連続部)に対する非破壊試験として磁粉探傷試験が使用されている。通常磁粉探傷試験を行う際,試験面上に施されている塗膜をはく離する必要がある。従って,塗膜上からの試験が可能で,かつ,きず深さの定量的評価ができる新たな検査方法が必要で,筆者は漏えい磁束探傷法に注目した。筆者はMIセンサを用いた残留法による漏えい磁束探傷法により溶接部に生じるきずの定量的評価を試み,現在までに基礎的実験として平板状の試験片及び溶接部に放電加工きずを施した試験片において検討を行っている。本文ではそれらの結果について報告した。得られた結果は次の通りである。1)MIセンサを用いることできずから生じる微弱な残留漏えい磁界の測定が可能で,残留法による漏えい磁束探傷法により溶接部のきずが検出できることを示した。2)得られたきず信号のBy(残留漏えい磁界のきず長手方向の成分)からきず長さが求まるので,Bx(長手方向と直角方向の成分),Bz(試験面の法線方向の成分)の振幅ときず断面積の関係から,きず深さの評価が可能であることを示した。
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
溶接欠陥  ,  非破壊試験 

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