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J-GLOBAL ID：201302206542637058   整理番号：13A0658706

信頼性と人材育成-発光デバイスの例-

著者 (1件)： 上田修 (金沢工大)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 35  号： 2  ページ： 89-97  発行年： 2013年03月01日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 2000年代以降,いわゆる団塊の世代の定年退職などにより,多くの企業では,技術の伝承が十分になされないまま現在に至っているようである。一方,昨今,社会を揺るがす事件・事故が後を絶たず,それらの一因とされるシステムを構成する電子機器,さらには,デバイスの不具合を未然に防止することが不可欠となってきている。このような状況下では,企業におけるプロダクトの長期信頼性を図る取り組みが不可欠であり,特に,信頼性技術者の教育・人材育成が急務である。本稿では,各種システムや電子機器に搭載される発光デバイスを例にとり,信頼性と教育・人材育成について議論する。まず,発光デバイスの開発と信頼性研究の歴史を紹介し,次いで,発光デバイスの劣化モードおよび劣化解析技術について概説する。さらに,信頼性に関してデバイスメーカー,機器メーカーにおける現状課題について述べた後,今後必要な取り組みを,大学,企業,学会,国および各種協会の各々の立場で議論する。

シソーラス用語： 信頼性 ,  *産業教育 ,  *人材育成 ,  *発光ダイオード ,  *半導体レーザ ,  信頼性解析 ,  故障率 ,  信頼性試験 ,  技術教育
準シソーラス用語： 企業内教育 ,  *技術者教育 ,  *信頼性技術者 ,  発光デバイス ,  品質劣化

分類 (3件)： 技術教育  (KA01050U) ,  技術教育  (NA01040M) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (9件)：

• UEDA, O. On degradation studies of III-V compound semiconductor optical devices over three decades : focusing on gradual degradation. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 9, "090001-1"-"090001-2"
• UEDA, O. Degradation of III-V opto-electronic devices. J. Electrochem. Soc. 1988, 135, 1, 11C-22C
• FUKUDA, M. Reliability and Degradation of LEDs and Semiconductor Lasers. 1991
• UEDA, O. Reliability and degradation of III-V optical devices. 1996
• GUHA, S. Degradation of II-VI based blue-green light emitters. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 23, 3107-3109

タイトルに関連する用語 (2件)： 人材育成 ,  発光デバイス