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J-GLOBAL ID：201302208516665879   整理番号：13A0647989

低温多重化ダイオード・アレーによる容量型低温レベル・インジケータの較正,及び線形検証

CALIBRATION AND LINEARITY VERIFICATION OF CAPACITANCE TYPE CRYO LEVEL INDICATORS USING CRYOGENICALLY MULTIPLEXED DIODE ARRAY

著者 (6件)： KARUNANITHI R. (Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND) ,  JACOB S. (Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND) ,  GOUR Abhay Singh (Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND) ,  DAS M. (Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND) ,  NADIG D.S. (Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND) ,  PRASAD M.V.N. (Indian Space Res. Organization, Karnataka, IND)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 1434 Vol.A  ページ： 499-506  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： 低温 ,  多重化 ,  ダイオード ,  アレー ,  インジケータ ,  較正 ,  線形 ,  検証