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J-GLOBAL ID：201302209883839316   整理番号：13A1439308

ゾル-ゲル法で作製されたTb⁺³ドープGeO₂-ZrO₂薄膜の光学的性質

Optical properties of Tb³⁺-doped GeO₂-ZrO₂ thin films prepared by sol-gel method

著者 (5件)： SANADA Tomoe (Dep. of Applied Chemistry, Coll. of Life Sciences, Ritsumeikan Univ., 1-1-1 Noji-Higashi, Kusatsu-City, Shiga ...) ,  ABE Masashi (Dep. of Applied Chemistry, Coll. of Life Sciences, Ritsumeikan Univ., 1-1-1 Noji-Higashi, Kusatsu-City, Shiga ...) ,  YAMAMOTO Kazuhiro (Industrial Res. Center of Shiga Prefecture, 232 Kamitoyama, Rittou-City, Shiga 520-3004, JPN) ,  WADA Noriyuki (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Suzuka National Coll. of Technol., Shiroko-cho, Suzuka-City, Mie 510-0244, JPN) ,  KOJIMA Kazuo (Dep. of Applied Chemistry, Coll. of Life Sciences, Ritsumeikan Univ., 1-1-1 Noji-Higashi, Kusatsu-City, Shiga ...)
資料名： Optical Materials  (Optical Materials)
巻： 35  号： 11  ページ： 1981-1986  発行年： 2013年09月 
JST資料番号： W0468A  ISSN： 0925-3467  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： yTb₂O₃-xGeO₂-(100-x)ZrO₂からなるシステムの薄膜をゾル-ゲル法とディップコーティング法で作製し,その光学的性質をルミネセンス,励起スペクトル,ルミネセンス量子収量(QY)値,ルミネセンス減衰曲線を測定することによって研究した。光学的性質に及ぼす薄膜の結晶化と組成の影響もX線回折パターンから調べた。x=0~10のyTb₂O₃-xGeO₂-(100-x)ZrO₂薄膜では,結晶化温度はyとxの値の増加と共に増加する傾向を示した。y≧5とx=0のアモルファス及び立方晶系ZrO₂薄膜の両方とy≧5,x=5又は10のアモルファス薄膜で強いルミネセンスが観測され,最強QY値は400°C又は500°Cで熱処理されたyTb₂O₃-5GeO₂-95ZrO₂とyTb₂O₃-10GeO₂-90ZrO₂アモルファス薄膜で観測された。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *テルビウム ,  *ドーピング ,  *酸化ゲルマニウム ,  *酸化ジルコニウム ,  *量子収量 ,  酸化テルビウム ,  *ゾル-ゲル法 ,  浸漬塗装 ,  セラミック膜 ,  固溶体 ,  誘電体薄膜 ,  *光ルミネセンス ,  可視発光スペクトル ,  励起スペクトル ,  *蛍光減衰 ,  非晶質 ,  結晶化 ,  X線回折
準シソーラス用語： ディップコーティング

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  無機化合物のルミネセンス  (BM08093J)

タイトルに関連する用語 (6件)： ゾル-ゲル法 ,  作製 ,  ドープ ,  ZrO2 ,  薄膜 ,  光学的性質