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J-GLOBAL ID：201302215912752276   整理番号：13A0600993

3次元nanoESCAを用いたグラフェンデバイス構造の実空間界面電子状態分析

著者 (17件)： 永村直佳 (東大 工) ,  永村直佳 (東大) ,  永村直佳 (JST-CREST) ,  豊田智史 (東大) ,  豊田智史 (JST-CREST) ,  黒角翔大 (東大 工) ,  篠原稔宏 (東大 工) ,  堀場弘司 (東大) ,  堀場弘司 (JST-CREST) ,  尾嶋正治 (東大 工) ,  尾嶋正治 (東大) ,  尾嶋正治 (JST-CREST) ,  井出隆之 (東北大 電通研) ,  吹留博一 (東北大 電通研) ,  末光眞希 (東北大 電通研) ,  長汐晃輔 (東大 工) ,  鳥海明 (東大 工)
資料名： 日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)
巻： 68  号： 1 第4分冊  ページ： 961  発行年： 2013年03月05日 
JST資料番号： S0671B  ISSN： 1342-8349  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 炭素材 ,  ナノ構造 ,  *X線光電子分光法 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  *界面 ,  半導体金属接合 ,  *グラファイト ,  *電子状態 ,  電荷移動 ,  分布 ,  結合エネルギー ,  グラフェン ,  金属-半導体界面 ,  電子分布 ,  走査電子顕微鏡法
準シソーラス用語： 走査電子顕微鏡観察

分類 (4件)： 半導体-金属接触  (BM03084G) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  結晶中の局在電子構造  (BM02090U)

タイトルに関連する用語 (7件)： 3次元 ,  グラフェン ,  デバイス構造 ,  実空間 ,  界面 ,  電子状態 ,  分析