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J-GLOBAL ID:201302226774783159   整理番号:13A1395804

NドープSiC準整列ナノ配列の成長と電界放出特性

Growth of flexible N-doped SiC quasialigned nanoarrays and their field emission properties
著者 (9件):
資料名:
巻:号: 31  ページ: 4779-4784  発行年: 2013年08月21日 
JST資料番号: W2383A  ISSN: 2050-7526  CODEN: JMCCCX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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SiCナノ構造は優れた電界放出体と考えられている。ドーピングはSiC低次元ナノ構造の電界放出特性を向上させる効率的方法である。本研究では,高分子前駆体の熱分解により,炭素構造基板上にNドープSiCナノワイヤを合成した。ナノワイヤは1.9~2.84Vμm-1の非常に低いターンオン電場と2.53~3.51Vμm-1のターンオン電場閾値を示した。このナノワイヤは電界放出ディスプレイへの応用に有望である。
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分類 (1件):
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熱電子放出,電界放出 
タイトルに関連する用語 (5件):
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