文献

J-GLOBAL ID：201302226777926929   整理番号：13A0844473

有界TOP-FANIN深度3回路のブラックボックスアイデンティティテスト: FIELDは問題ではない

BLACKBOX IDENTITY TESTING FOR BOUNDED TOP-FANIN DEPTH-3 CIRCUITS: THE FIELD DOESN’T MATTER

著者 (2件)： SAXENA Nitin (Hausdorff Center for Mathematics, Bonn, DEU) ,  SESHADHRI C. (Sandia National Lab., CA)
資料名： SIAM Journal on Computing (Society for Industrial and Applied Mathematics)  (SIAM Journal on Computing (Society for Industrial and Applied Mathematics))
巻： 41  号： 5  ページ： 1285-1298  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0944A  ISSN： 0097-5397  CODEN： SMJCAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (2件)： 有界 ,  深度