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J-GLOBAL ID:201302230601341646   整理番号:13A0412101

ナノメータサイジングによって増強された磁気ドットの保磁力のX線磁気円二色性(XMCD)による測定

Measurement of coercive force enhanced by nanometer-sizing of magnetic dot by X-ray magnetic circular dichroism (XMCD)
著者 (8件):
資料名:
巻: 534  ページ: 122-125  発行年: 2013年 
JST資料番号: D0744C  ISSN: 1013-9826  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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薄いカリキサレンレジストの30keV-電子ビーム(EB)描画,及び200eV Arイオンミリングによって,39から106-nmサイズのCoPtの磁気ドットアレイを形成し,ナノ磁気ドットのヒステリシスをXMCDにより測定して,ナノメータサイジングによって増強された保磁力を調べた。微細磁気ドットアレイを使って,ドットの保磁力をPt-L3のエネルギーエッジと一致するエネルギー11.56kVのX線の磁気円二色性(XMCD)により評価し,39nmサイズのCoPt磁気ドットは,磁気薄膜の約70倍の高い保磁力を有することが分かった。
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分類 (3件):
分類
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電子・磁気・光学記録  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  記憶装置 
タイトルに関連する用語 (5件):
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