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J-GLOBAL ID:201302230732511725   整理番号:13A1340516

TDDBによる統計的な破壊後のゲート電流増加のためのSPICEコンパクトモデル

A Compact SPICE Model for Statistical Post-Breakdown Gate Current Increase Due to TDDB
著者 (6件):
資料名:
巻: 2013 Vol.1  ページ: 7-10  発行年: 2013年 
JST資料番号: A0631A  ISSN: 1541-7026  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
シソーラス用語:
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分類 (1件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性 

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