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J-GLOBAL ID:201302235769900499   整理番号:13A1829546

金属酸化物の原子層堆積の間の粗度発展

Roughness evolution during the atomic layer deposition of metal oxides
著者 (5件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 061501-061501-5  発行年: 2013年11月 
JST資料番号: C0789B  ISSN: 0734-2101  CODEN: JVTAD6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Al2O3,NiOとHfO2の原子層堆積(ALD)の間の表面粗度の発展を原子間力顕微鏡と非鏡面X反射率により研究した。結果は, ALDの間,薄膜の結晶性が粗度発展で重要な役割を演じることを示した。非晶質酸化物薄膜のALDは粗度強化なしで,開始表面の複写を示し,多結晶酸化物薄膜のALDは強い変則的な粗度の薄膜厚み依存性になる。この挙動を吸着サイト密度の空間変化を考慮に入れたモデルで説明した。(翻訳著者抄録)
シソーラス用語:
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
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