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J-GLOBAL ID:201302236181452038   整理番号:13A1071824

レーザを使ったセンシング 光断層計測

著者 (1件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 1-11  発行年: 2012年12月30日 
JST資料番号: L4200A  ISSN: 0916-7277  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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光干渉断層計(OCT)は,レーザの持つコヒーレンスと自然光の持つインコヒーレンスを利用した断層画像計測手法である。本報告では,この計測法の具体例として,三つの手法を説明した。TD-OCTによる高精度板厚計測,SD-OCTによるオンマシンSiウエハ厚計測,FF-OCTによる高分解能面観察であった。これらの概要,特徴,課題などを説明した。本技術は,製品の加工精度や加工効率を改善し,優れた製品開発に貢献する。
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分類 (2件):
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光学情報処理  ,  レーザの応用 
引用文献 (17件):
タイトルに関連する用語 (4件):
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