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J-GLOBAL ID：201302236529547763   整理番号：13A1565671

フェムト秒LA-ICPTOFMSによる微小試料の分析

著者 (2件)： 林英男 (東京都産業技術研究セ) ,  清水綾 (東京都産業技術研究セ)
資料名： 東京都立産業技術研究センター研究報告  (Bulletin of Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute)
号： 8  ページ： 58-61  発行年： 2013年09月20日 
JST資料番号： S0759C  ISSN： 1881-8676  CODEN： KHCDBB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： レーザアブレーション(LA)で試料を作製し,ICP-TOFMSで分析する微小試料分析法を開発した。ガラス標準物質を試料とし,レーザ照射で生じた微粒子をヘリウムガスでICP-TOFMS装置に搬送して質量スペクトルを測定し,汎用のエネルギー分散X線蛍光分光法(XRF-EDX)及び走査電子顕微鏡-エネルギー分散X線分光法(SEM-EDX)の結果と比較した。1点照射で,主要構成成分であるケイ素,ナトリウム及びアルミニウムの他,微量のリチウム,ベリリウム及びホウ素が検出可能であり,汎用法ではスペクトル分離が難しい希土類元素についても分析が容易であることがわかった。多点照射で信号再現性を調べた。いずれの元素においても含有量と信号強度との間には直線関係があり,検出限界も求めた。実試料のガラス破片に本分析法を適用し,XRF-EDX及びSEM-EDXと比較して,本方法が優れた手法であることが示された。

シソーラス用語： *微量分析 ,  *痕跡分析 ,  *レーザアブレーション ,  *ICP-MS分析 ,  レーザ脱離質量分析 ,  飛行時間法 ,  *ガラス ,  標準物質 ,  質量スペクトル ,  エネルギー分散蛍光X線分析 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  パルスレーザ照射 ,  再現性 ,  検量線 ,  検出限界 ,  フェムト秒 ,  誘導結合プラズマ ,  試料調製
準シソーラス用語： *微量成分分析 ,  TOF-MS ,  フェムト秒レーザアブレーション

分類 (2件)： 無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z)

引用文献 (4件)：

• A. L. Gray : "Solid sample introduction by laser ablation for inductively coupled plasma source mass spectrometry", Analyst [London], Vol.110, pp.551-556 (1985)
• S. Carter, A. S. Fisher, M. W. Hinds and S. Lancaster : "Atomic spectrometry update. Industrial analysis : metals, chemicals and advanced materials", J. Anal. At. Spectrom., Vol.27, pp.2003-2053 (2012)
• O. T. Butler, W. R. L. Cairns, J. M. Cook and C. M. Davidson : "Atomic spectrometry update. Environmental analysis", J. Anal. At. Spectrom., Vol.28, pp.177-216 (2013)
• M. Resano, M. Verstraete, F. Vanhaecke and L. Moens : "Evaluation of the multi-element capabilities of electrothermal vaporization quadrupole-based ICP mass spectrometry", J. Anal. At. Spectrom., Vol.16, pp.1018-1027 (2001)

タイトルに関連する用語 (5件)： フェムト秒 ,  La ,  微小 ,  試料 ,  分析