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J-GLOBAL ID：201302237407393800   整理番号：13A1178854

過電流に起因する被覆導体の局所性能劣化特性に関する実験と数値シミュレーション

Experiments and Numerical Simulations on Local Degradation Characteristics of Coated Conductor Due to Overcurrent

著者 (6件)： WANG Xudong (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  WANG Tao (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  ISHIYAMA Atsushi (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  YAGI Masashi (Furukawa Electric Co., Ltd, Tokyo, JPN) ,  MARUYAMA Osamu (Superconductivity Res. Lab., Tokyo, JPN) ,  OHKUMA Takeshi (Superconductivity Res. Lab., Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 23  号： 3,Pt.3  ページ： 8002205,1-5  発行年： 2013年06月 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 過電流 ,  起因 ,  被覆導体 ,  性能劣化 ,  実験 ,  数値シミュレーション