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J-GLOBAL ID：201302240581262480   整理番号：13A0242668

光電子顕微鏡と電界放出顕微今日の使用によるスカンジウム酸化物によって改変されたW(100)表面仕事関数測定

Work Function Measurements of W(100) Surface Modified by Scandium Oxide by Using Photoemission Electron Microscopy and Field Emission Microscopy

著者 (3件)： KAWAKUBO Takashi (Kagawa National Coll. Technol., Kagawa, JPN) ,  TAKEDA Hiroki (Muroran Inst. Technol., Hokkaido, JPN) ,  NAKANE Hideaki (Muroran Inst. Technol., Hokkaido, JPN)
資料名： Proceedings of the International Display Workshops  (Proceedings of the International Display Workshops)
巻： 19th  号： Day 4  ページ： 1803-1805  発行年： 2012年12月03日 
JST資料番号： L4269A  ISSN： 1883-2490  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *スカンジウム化合物 ,  酸化物 ,  仕事関数 ,  *電子顕微鏡観察 ,  電界放出顕微鏡 ,  *タングステン
準シソーラス用語： *光電子顕微鏡法

分類 (2件)： 電子放出一般  (BM09010H) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 光電子顕微鏡 ,  電界放出 ,  スカンジウム ,  酸化物 ,  改変 ,  仕事関数