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J-GLOBAL ID：201302248057509860   整理番号：13A0995078

テイル容量性帰還VCOの安定性と位相雑音の研究

A Study of Stability and Phase Noise of Tail Capacitive-Feedback VCOs

著者 (3件)： MUSA Ahmed (Dep. of Physical Electronics, Graduate School of Sci. and Engineering, Tokyo Inst. of Technol.) ,  OKADA Kenichi (Dep. of Physical Electronics, Graduate School of Sci. and Engineering, Tokyo Inst. of Technol.) ,  MATSUZAWA Akira (Dep. of Physical Electronics, Graduate School of Sci. and Engineering, Tokyo Inst. of Technol.)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E96-C  号： 4  ページ： 577-585 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 容量性帰還VCOは,電流源として動作するテイルトランジスタの出力ノードからゲートに接続されたキャパシタを用いた。そのような帰還を用いることは,発振器により用いられる電流を変調することに帰着し,それ故より低い出力位相雑音に帰着するその周期定常雑音特性を変化した。本稿では,安定性を確立しそして位相雑音の改善を説明するため安定性と位相雑音改善に関する容量性帰還VCOの数学的研究を述べた。位相雑音で誘導した表現は,電流制限領域でのVCOステイのあるかぎり容量性帰還を使うことにより4.4dBの改善が達成できる,ことを示した。65nmのCMOSプロセスで実装した実際の容量性帰還VCOから得た測定結果は,また解析とシミュレーション結果と一致し,これは与えた解析を更に有効化した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *VCO【発振器】 ,  安定性 ,  位相雑音 ,  電源装置 ,  フィードバック ,  発振器 ,  雑音特性 ,  電流制限 ,  半導体プロセス ,  計算機シミュレーション
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  電流源

分類 (1件)： 発振回路  (NC05020Y)

引用文献 (13件)：

• LEESON, D. B. A simple model of feedback oscillator noise spectrum. Proc. IEEE. 1966, 54, 2, 329-330
• ABIDI, A. A. The Designer's Guide to High-Purity Oscillators. 2004
• RAZAVI, B. A study of phase noise in CMOS oscillators. IEEE J. Solid-State Circuits. 1996, 31, 3, 331-343
• HAJIMIRI, A. A general theory of phase noise in electrical oscillators. IEEE J. Solid-State Circuits. 1998, 33, 2, 179-194
• HAJIMIRI, E. A filtering technique to lower LC oscillator phase noise. IEEE J. Solid-State Circuits. 2001, 36, 12, 1921-1930

タイトルに関連する用語 (7件)： テイル ,  容量性 ,  帰還 ,  VCO ,  安定性 ,  位相雑音 ,  研究