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J-GLOBAL ID：201302248475636542   整理番号：13A0653930

高解像力電子後方散乱回折による幾何学的に必要な転位密度の測定:探知器ビニングとステップ・サイズの影響

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: Effects of detector binning and step size

著者 (3件)： JIANG J. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  BRITTON T.B. (Univ. Oxford, Oxford, GBR) ,  WILKINSON A.J. (Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 125  ページ： 1-9  発行年： 2013年02月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高解像力 ,  電子後方散乱回折 ,  幾何学 ,  転位密度 ,  探知器 ,  ビニング ,  サイズ