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J-GLOBAL ID:201302250477284982   整理番号:13A1940476

低角度環状暗視野走査型透過電子顕微鏡によるブロック共重合体Tgの定量的イメージング

Quantitative Imaging of Tg in Block Copolymers by Low-Angle Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy
著者 (10件):
資料名:
巻: 46  号: 21  ページ: 8589-8595  発行年: 2013年11月12日 
JST資料番号: B0952A  ISSN: 0024-9297  CODEN: MAMOBX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高分子材料のナノスケール構造観察に用いられる透過電子顕微鏡(TEM)の低散乱コントラストを克服するために,ブロック共重合体のミクロ相分離した微細構造観察への低角度環状暗視野走査型透過電子顕微鏡(LAADF-STEM)の適応性について研究した。ポリ(TCDVE)-b-ポリ(NBVE)のLAADF-STEM撮像により,定量的画像コントラストを任意染色なしで形成させ,固有密度差に従った高いS/Nコントラストでブロック共重合体のミクロ相分離したモルフォロジーを得た。温度依存性の画像コントラストから,ポリ(NBVE)のガラス転移点である-50°C周辺で欠陥を見つけ,それを利用して,ナノスケールでガラス転移温度と熱膨張係数を推定することができた。このように,LAADF-STEM撮像は,ポリマー材料のナノスケール相を定量的に撮像する,効果的な方法である。
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分類 (1件):
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共重合 

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