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J-GLOBAL ID：201302251296909472   整理番号：13A0676526

Fowler-Nordheimプロット解析への改善されたアプローチ

Improved approach to Fowler-Nordheim plot analysis

著者 (3件)： FORBES Richard G. (Advanced Technol. Inst. & Dep. of Electronic Engineering, Fac. of Engineering and Physical Sciences, Univ. of Surrey ...) ,  FISCHER Andreas (Dep. of Physics, Mu’tah Univ., Al-Karak 61710, Jordan) ,  MOUSA Marwan S. (Dep. of Physics, Mu’tah Univ., Al-Karak 61710, Jordan)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 31  号： 2  ページ： 02B103-02B103-8  発行年： 2013年03月 
JST資料番号： E0974A  ISSN： 2166-2746  CODEN： JVTBD9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,新しい型の切断補正因子に基づいた,Fowler-Nordheim(FN)プロット解析へのアプローチの改善を述べた。この因子は,以前に用いられた因子よりも明確に定義された。FN型方程式を用いてフィットできるデータの任意の型のFNプロットに適用できる一般的に可能な理論を述べた。実用的な使用は,傾斜補正因子が,信頼性高く予測できる放出状況に限られた。一連の明確な過程及び近似を行って,正統的なFNプロットデータ解析の改善した理論を与えるように,この一般式を簡単にする仕方を示した。これを,回路電流がエミッタ特性により完全に制御され,トンネリングが,Schottky-Nordheim(SN)障壁を通して起こるとして扱うことができる状況に応用した。正統的な放出に関して,良好に働く式は,傾斜補正因子及び新しい切片補正因子の数値評価を素早く直接的に行った。シミュレートした放出データを用いた数値実例は,この改善アプローチを用いて,SN障壁に関する完全なFN型方程式におけるパラメータに関する値を,如何に導出するかを示した。良好な自己無撞着を実証した。一般可能化式も,非正統的な放出状況に関する類似データ解析手続きの開発を狙った研究に道を敷いた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *Fowler-Nordheimトンネリング ,  *データ解析 ,  補正 ,  Schottky障壁 ,  *電界放出 ,  電流電圧特性 ,  計算機シミュレーション ,  モデル
準シソーラス用語： 理論モデル

分類 (2件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S) ,  界面の電気的性質一般  (BM03081H)

タイトルに関連する用語 (2件)： プロット ,  解析