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J-GLOBAL ID：201302253440104754   整理番号：13A1856463

リチウムイオン電池のためのシリコンナノ構造のリチウム化および脱リチウム化のin situ原子間力顕微鏡法

In Situ Atomic Force Microscopy of Lithiation and Delithiation of Silicon Nanostructures for Lithium Ion Batteries

著者 (4件)： BECKER Collin R. (U.S. Army Res. Lab., Maryland, USA) ,  STRAWHECKER Kenneth E. (U.S. Army Res. Lab., Maryland, USA) ,  MCALLISTER Quinn P. (U.S. Army Res. Lab., Maryland, USA) ,  LUNDGREN Cynthia A. (U.S. Army Res. Lab., Maryland, USA)
資料名： ACS Nano  (ACS Nano)
巻： 7  号： 10  ページ： 9173-9182  発行年： 2013年10月 
JST資料番号： W2326A  ISSN： 1936-0851  CODEN： ANCAC3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子ビームリソグラフィー(EBL)を用いてナノスケールのアモルファスシリコン(a-Si)ピラーを作製し,サイズの分布を生じる化学的な合成あるいはエッチング技術よりも精密な幾何学的配置をもつアノードを実現することができた。これによって,リアルタイムでおよび1000から100nmまでのピラー直径の範囲に渡って体積および高さ変化の測定が可能となった。ex situ SEM画像を分析することによって,AFMによって摂動されたピラーとサイクル中においてプローブによって画像化されなかったものとの比較が描かれた。ピラーの低減された構造的完全性のこの定量的な観察によって,理論的および実験的な研究の両方を指針するSiナノピラー機械特性のin situ定量化に関する将来的な研究が動機づけられた。

シソーラス用語： *リチウムイオン電池 ,  *顕微鏡観察 ,  インターカレーション ,  リチウム化合物 ,  金属イオン ,  電子ビームリソグラフィー ,  アモルファスシリコン ,  ナノ構造 ,  柱 ,  多孔質シリコン
準シソーラス用語： *原子間力顕微鏡法 ,  *リチウム化 ,  *脱リチウム ,  *デインターカレーション ,  ナノピラー

分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

タイトルに関連する用語 (6件)： リチウムイオン電池 ,  シリコン ,  ナノ構造 ,  リチウム ,  脱リチウム ,  原子間力顕微鏡法