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J-GLOBAL ID：201302261114802495   整理番号：13A1449619

広開口クロック型コンパレータと最尤検出によるロバスト性ランダムチップID発生

Robust Random Chip ID Generation with Wide-Aperture Clocked Comparators and Maximum Likelihood Detection

著者 (2件)： CHOI Yunju (Seoul National Univ., Seoul, KOR) ,  KIM Jaeha (Seoul National Univ., Seoul, KOR)
資料名： IEEE International Symposium on Circuits and Systems  (IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻： 2013 Vol.2  ページ： 1014-1017  発行年： 2013年 
JST資料番号： A0757A  ISSN： 0271-4302  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： ロバスト性 ,  半導体チップ ,  *認証 ,  コンパレータ ,  開口 ,  *信号発生器 ,  乱数発生
準シソーラス用語： *ID ,  クロック信号 ,  ランダム性 ,  検出回路 ,  最尤検出 ,  電子回路設計

分類 (1件)： 発振回路  (NC05020Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： クロック ,  コンパレータ ,  最尤検出 ,  ロバスト性 ,  ID