文献

J-GLOBAL ID：201302262327503927   整理番号：13A0824793

エネルギー分散X線分光法を使った酸化物界面の原子スケールの化学定量化

Atomic-scale chemical quantification of oxide interfaces using energy-dispersive X-ray spectroscopy

著者 (4件)： LU Ping (Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA) ,  XIONG Jie (Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA) ,  VAN BENTHEM Mark (Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA) ,  JIA Quanxi (Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 102  号： 17  ページ： 173111-173111-4  発行年： 2013年04月29日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *エネルギー分散X線分光分析 ,  *化学組成 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  ビスマス化合物 ,  フェライト ,  鉄化合物 ,  ランタン化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  *マンガン化合物 ,  酸化物 ,  強磁性体 ,  反強磁性体 ,  界面 ,  表面構造 ,  レーザ蒸着 ,  エピタクシー ,  ペロブスカイト型結晶 ,  スペクトル線形 ,  パルスレーザ蒸着
準シソーラス用語： STEM【顕微鏡】 ,  *BFO【化合物】 ,  元素分布 ,  *界面構造

分類 (2件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (6件)： エネルギー分散X線分光法 ,  酸化物 ,  界面 ,  原子スケール ,  化学 ,  定量化