文献

J-GLOBAL ID：201302262358174565   整理番号：13A1303546

アナログICの欠陥検出率増加に向けたプロセス変動のオンチップ補償を使った新OBIST

New OBIST Using On-Chip Compensation of Process Variations Toward Increasing Fault Detectability in Analog ICs

著者 (5件)： ARBET Daniel (Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK) ,  STOPJAKOVA Viera (Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK) ,  MAJER Libor (R-DAS, s.r.o., Zilina, SVK) ,  GYEPS Gabor (Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK) ,  NAGY Gabriel (Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK)
資料名： IEEE Transactions on Nanotechnology  (IEEE Transactions on Nanotechnology)
巻： 12  号： 4  ページ： 486-497  発行年： 2013年07月 
JST資料番号： W1355A  ISSN： 1536-125X  CODEN： ITNECU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アナログ並びに混合信号回路の新しいオンチップ発振試験手法を記す。提案方法では,プロセスパラメータ変動の影響を補償するためにオンチップ周波数基準としてオンチップのSchmittトリガーを使う。更に,この方法はアナログと混合信号回路のための発振ベースビルトインセルフテスト(OBIST)も可能とする。提案するOBIST方法を実験的にアナログ集積フィルタに適用し,検出の難しい致命欠陥検出におけるその有効性を示した。ナノスケール技術への適用性を示すために,90nmCMOSで設計した非反転増幅器の試験に使った。スケーリングの影響を解析し,0.35μmと90nmCMOS技術に対する致命欠陥のカバーリング効率を比較した。得られた結果は,検出困難な致命欠陥に対してもOBIST技術は非常に高い欠陥カバレージを示した。

シソーラス用語： アナログ集積回路 ,  *故障検出 ,  変動 ,  *BIST ,  周波数 ,  通信信号 ,  超小形回路技術
準シソーラス用語： アナログIC ,  オンチップ ,  プロセス変動 ,  欠陥検出 ,  混合信号 ,  *発振周波数

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： アナログIC ,  欠陥検出 ,  プロセス変動 ,  オンチップ ,  補償