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J-GLOBAL ID:201302266657563620   整理番号:13A1944148

a-Si:H/c-Siヘテロ接合太陽電池のための高透過率及び高仕事関数のRFマグネトロンスパッタリング作製酸化インジウム錫薄膜

RF magnetron sputtered indium tin oxide films with high transmittance and work function for a-Si:H/c-Si heterojunction solar cells
著者 (9件):
資料名:
巻: 101  ページ: 18-21  発行年: 2014年03月 
JST資料番号: E0347A  ISSN: 0042-207X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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低抵抗,高透過率,高仕事関数の酸化インジウム錫(ITO)薄膜を異なる酸素(O2)流速でガラス基板上にRFマグネトロンスパッタリング堆積した。スパッタリングプロセス中での少量のO2添加はITO薄膜のHall移動度を増大し,キャリア濃度を減少した。相対的に低い表面エネルギーを有する(222)面の成長を通して,このITO薄膜の仕事関数は4.31eVから4.81eVに増大した。この高度に透明なITO薄膜を真性薄層ヘテロ接合(HIT)太陽電池の前面反射防止層として採用し,0.1sccmのO2流速に対して,Voc=665mV,Jsc=35.1mA/cm2,FF=73.2%,η=17.1%の最良光-電圧パラメータを得た。このITO薄膜の高い仕事関数はHIT太陽電池における障壁高さ修飾に対し重要な役割を果たしている。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (4件):
分類
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酸化物薄膜  ,  半導体結晶の電気伝導  ,  光物性一般  ,  太陽電池 

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