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J-GLOBAL ID:201302269965031514   整理番号:13A0148569

ヘテロ接合界面エネルギーのXPS定量化

XPS quantification of the hetero-junction interface energy
著者 (10件):
資料名:
巻: 265  ページ: 71-77  発行年: 2013年01月15日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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X線光電子分光(XPS)を用いて,ヘテロ接合界面結合エネルギーを定量化するアプローチを提案した。はじめに,元素表面のXPS内殻準位シフトの分析から,参照に関する孤立原子のエネルギー準位及びそのバルクシフトを得た。次に,界面合金形成における特定エネルギー準位のエネルギーシフトを測定した。合金から集めたものから参照スペクトルを差し引き,結合エネルギーに及ぼす界面効果を引き出すことができた。これらを較正することにより,界面領域における結合エネルギー,エネルギー密度,原子凝集エネルギー,及び自由エネルギーを導出できた。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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表面の電子構造  ,  電子分光スペクトル 
タイトルに関連する用語 (4件):
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