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J-GLOBAL ID:201302270053586416   整理番号:13A1311144

異なるAl2O3成分を持つInP上の原子層蒸着(HfO2)1-x(Al2O3)xナノラミネート膜

Atomic-layer-deposited (HfO2)1-x(Al2O3)x nanolaminate films on InP with different Al2O3 contents
著者 (4件):
資料名:
巻: 46  号: 27  ページ: 275301,1-6  発行年: 2013年07月10日 
JST資料番号: B0092B  ISSN: 0022-3727  CODEN: JPAPBE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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原子層蒸着を用いて,InP基板上に(HfO2)1-x(Al2O3)xナノラミネート膜を作製し,HfO2/Al2O3混合比と膜の電気的性質との関係を調べた。Al2O3の比率が増すと,Inの拡散とInに関連した酸化物相の生成が抑えられ,誘電特性が著しく改善された。また,界面トラップと界面状態密度が減少し,容量電圧周波数分散の大きさが減少した。さらに,電圧応力依存信頼性が向上し,漏れ電流特性も改善されることがわかった。
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分類 (2件):
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誘電体一般  ,  酸化物薄膜 
タイトルに関連する用語 (5件):
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