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J-GLOBAL ID：201302276428892518   整理番号：13A1081623

ミリ波までの単層オンウエハデバイスディエンベディングに対するラインシリーズシャント較正の適用

APPLYING LINE-SERIES-SHUNT CALIBRATION TO ONE-TIER ON-WAFER DEVICE DE-EMBEDDING UP TO MILLIMETER WAVES

著者 (2件)： HUANG Chien-Chang (Yuan Ze Univ., Taoyuan, TWN) ,  CHEN Yu-Chuan (Yuan Ze Univ., Taoyuan, TWN)
資料名： Microwave and Optical Technology Letters  (Microwave and Optical Technology Letters)
巻： 55  号： 4  ページ： 744-747  発行年： 2013年04月 
JST資料番号： T0712A  ISSN： 0895-2477  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： ミリ波 ,  単層 ,  シャント ,  較正