文献
J-GLOBAL ID:201302277844792049   整理番号:13A1934337

パワーエレクトロニクス回路におけるフリーホイールダイオードの破局的故障についての概観

Overview of catastrophic failures of freewheeling diodes in power electronic circuits
著者 (4件):
資料名:
巻: 53  号: 9-11  ページ: 1788-1792  発行年: 2013年09月 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
新しい応用(例えば,電気自動車,再生可能エネルギーシステム,より多くの電気を用いる航空機など)は,安全性要求事項と維持コストの問題のために,より厳格な信頼性制約条件をパワーエレクトロニクス製品にもたらす。パワーエレクトロニクスの信頼性を向上させるために,パワーエレクトロニクス回路における信頼性が重要な構成部品の故障モードと故障機構をより良く理解することが必要である。多くの努力が,IGBT故障減少のために払われたが,フリーホイールダイオードの故障に関する研究についてはあまり印象がない。フリーホイールダイオードの故障は,他の部品および最終的には全体の電力電子回路の誤動作を誘発する可能性があるので,フリーホイールダイオードの破局的な故障を調査することは重要である。ここでは,これらの破局的な故障を概観し,回路に及ぼす対応結果の例を示す。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る