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J-GLOBAL ID：201302279378888050   整理番号：13A0529717

一般化フェイステルネットワークのための故障を使用するラウンドアディション

Round Addition Using Faults for Generalized Feistel Network

著者 (3件)： YOSHIKAWA Hideki (Fac. of Engineering, Tohoku Gakuin Univ.) ,  KAMINAGA Masahiro (Fac. of Engineering, Tohoku Gakuin Univ.) ,  SHIKODA Arimitsu (Fac. of Engineering, Tohoku Gakuin Univ.)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E96-D  号： 1  ページ： 146-150 (J-STAGE)  発行年： 2013年 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本稿は,CLEFIAとRC6を含む一般化フェイステルネットワーク(GFN)のための丸い添加を使用する故障差分解析(DFA)技術を示した。ここで,表現「ラウンドアディション」は,ラウンド動作が同じラウンドキーを使用して二度実施するということを意味した。提案のDFAは,インクリメントあるいはデクリメントのようなラウンドの数を数えるのに動作をバイパスする必要があった。提案の実現可能性を確認するために,著者らは,マイクロコントローラに関して,インクリメントとデクリメントを含むいくつかの動作を実施して,実験的にバイパスする動作を確認した。提案のラウンドアディション技術は,最後のラウンド後の部分的なホワイトニング動作を用いる一般化フェイステルネットワークに関して,効果的に動作した。128ビットCLEFIAの場合には,著者らは,1つの正しい暗号文と2つの不完全な暗号文を使用してラウンドキーあるいは秘密鍵を再建するために手順を示した。また,提案のDFAはDESとRC6のために動作した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ネットワーク ,  *故障 ,  暗号鍵 ,  文章 ,  白化 ,  マイクロコントローラ ,  実現可能性 ,  解析 ,  差分
準シソーラス用語： ホワイトニング ,  暗号文 ,  秘密鍵

分類 (2件)： 通信網  (ND07030A) ,  その他の情報処理  (JE15050M)

引用文献 (8件)：

• [1] E. Biham and A. Shamir, “Differential fault analysis of secret key cryptosystems,” Proc. CRYPTO'97, LNCS 1294, pp.513-525, 1997.
• [2] H. Choukri and M. Tunstall, “Round reduction using faults,” Proc. FDTC, pp.13-24, 2005.
• [3] J. Park, S. Moon, D. Choi, Y. Kang, and J. Ha, “Differential fault analysis for round-reduced AES by fault injection,” ETRI J., vol.33, no.3, pp.434-441, June 2011.
• [4] J. Takahashi and T. Fukunaga, “Differential fault analysis on CLEFIA with 128, 192, and 256-bit keys,” IEICE Trans. Fundamentals, vol.E93-A, no.1, pp.136-143, Jan. 2010.
• [5] R. Li, B. Sun, C. Lin, and J. You, “Differential fault analysis on SMS4 using single fault,” Inf. Process. Lett., vol.111, pp.156-163, 2011.

タイトルに関連する用語 (2件)： 一般化 ,  故障