文献

J-GLOBAL ID：201302279724675416   整理番号：13A1934222

雑音観測からの非線形劣化経路依存エンドオブライフ評価フレームワーク

A nonlinear degradation path dependent end-of-life estimation framework from noisy observations

著者 (2件)： CUCU LAURENCIU N. ,  COTOFANA S.d.
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 53  号： 9-11  ページ： 1213-1217  発行年： 2013年09月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現在の先端技術ノードでは,エンドオブライフと信頼性統計評価は,デバイス動的信頼性管理フレームワークの重要な要素と見なされている。正確な評価は,適切な任務輪郭特定方針によって効果的な寿命管理を可能にする。ここでは,デバイスエージング動力学をより現実的に特性化することを目的にして,エンドオブライフと信頼性評価フレームワークを提案する。これは,センサ測定と劣化プロセス不確実性だけでなく,劣化プロセスの非線形性を考慮に入れる。劣化履歴に基づいて,新しい劣化測定データを手に入れると,Bayes法によって評価データを適切に更新する。提案フレームワークの評価正確性を証明し評価するために,数値シミュレーションをべき乗則劣化モデルに基づいて行った。非線形劣化プロセスを考慮して得られた結果から,このアプローチは,一般に用いられている線形平均のWiener過程と比較して評価正確性が改善されたことが分かる。このように,インフィールド劣化動力学の非線形性と変動性を考慮し,より現実的なやり方でデバイス信頼性を評価/予想することが望ましい。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *信頼性 ,  *雑音 ,  *寿命予測 ,  非線形系 ,  Wiener過程 ,  Bayes推定 ,  数値解析 ,  シミュレーション
準シソーラス用語： ノイズ

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 雑音 ,  観測 ,  非線形 ,  経路依存 ,  評価フレームワーク