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J-GLOBAL ID：201302280194099522   整理番号：13A1584673

共焦点マイクロXRF分析によるmicroSDカードの深さ選択的元素イメージング

Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro XRF analysis

著者 (3件)： NAKAZAWA Takashi (Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN) ,  NAKAZAWA Takashi (Chuo Univ., Tokyo, JPN) ,  TSUJI Kouichi (Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 42  号： 3  ページ： 123-127  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 共焦点 ,  マイクロ ,  XRF ,  分析 ,  カード ,  元素 ,  イメージング