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J-GLOBAL ID：201302282321868274   整理番号：13A1934226

環境ストレススクリーン法に基づく自動車電子部品の信頼性改善

Reliability improvement of automotive electronics based on environmental stress screen methodology

著者 (3件)： CHAN S.i. (Reliability Physics Res. Center, Korea Electronic Technol. Inst., Seongnam, KOR) ,  KANG J.h. (Dep. of Industrial Engineering, Graduate School of Ajou Univ., Suwon, KOR) ,  JANG J.s. (Dep. of Industrial Engineering, Graduate School of Ajou Univ., Suwon, KOR)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 53  号： 9-11  ページ： 1235-1238  発行年： 2013年09月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 初期故障検出における環境ストレススクリーン(ESS)法の有効性は,故障が潜在する半導体試料を用いて証明された。Kaplan-Meier法に基づく屋外故障データの解析とフォールトツリー解析から,半導体デバイスの故障は,初期故障期間に発生することが分かった。ESS実験を行うために,わざと故障を導入した試料を調製した。この試料は物理的損傷を持つが,主要な機能を持ったものである。潜在する故障を検出するために,熱サイクル試験を行ったが,標準ESS法を用いても潜在する故障を除去できなかったと結論づけられる。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *信頼性 ,  *カーエレクトロニクス ,  スクリーニング ,  *環境試験 ,  ストレス ,  環境影響 ,  フォールトツリー解析 ,  熱サイクル
準シソーラス用語： 環境ストレススクリーニング ,  自動車電子部品

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 環境ストレス ,  スクリーン ,  自動車電子部品