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J-GLOBAL ID:201302285090368930   整理番号:13A0155024

NTCサーミスタ温度センサのワイヤの金属イオン移動に対する印加電圧の加速

Acceleration of applied voltage on metallic ion migration of wires in NTC thermistor temperature sensors
著者 (2件):
資料名:
巻: 28  ページ: 252-263  発行年: 2013年03月 
JST資料番号: W0684A  ISSN: 1350-6307  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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温度センサにしばしば用いられるNTC(負温度係数)サーミスタについての研究は通常,性能に焦点を当てており,イオン移動によって引き起こされるNTCサーミスタの現場破損が増加しているにもかかわらず,これまで信頼性に焦点を当てた研究はほとんど行なわれていない。それ故,本報は,ワイヤと印加電圧の間の異なる距離に従ってイオン移動が発生するときの時間を測定することによってNTCサーミスタの現場破損と密接な関係をもつワイヤ間のイオン移動に焦点を当てた。印加電圧によるイオン移動の発生,加速およびイオン移動との相関の機構を定量的に解析した。銅線間のイオン移動は水の吸収と凝縮によって発生した。また,樹枝状結晶の固有の脆性特性により,再分離と合体を観察した。Weibull分布と同じ形状パラメータの両方を用い,印加電圧に従ってイオン移動の時間を推定した結果は逆パワーモデルと良く整合し,イオン移動発生の感度を表わす指標と特定パラメータを解析によって抽出することができた。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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温度測定,温度計 

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