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J-GLOBAL ID：201302287194397390   整理番号：12A1804145

トモグラフィーを用いた高分子構造観察・解析の最近の進歩

Recent Advances in Multi-Scale Tomographic Techniques in Polymer Research

著者 (2件)： 陣内浩司 (九州大学先導物質化学研究所) ,  陣内浩司 (科学技術振興機構ERATO 高原ソフト界面プロジェクト)
資料名： 高分子論文集  (Japanese Journal of Polymer Science and Technology)
巻： 69  号： 7  ページ： 358-365 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： G0122A  ISSN： 0386-2186  CODEN： KBRBA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,高分子の不均一構造を三次元的に実空間観察することにより高分子材料の評価・解析に資する一連の顕微鏡群が注目を浴びている.これらの中にはトモグラフィー(ギリシア語でsliceを意味する”tomos”とimageを意味する”graph”の造語)を基盤とするものが多い.本報では高分子材料分野でとくに有効と思われるX線CT法および電子線トモグラフィー法を取り上げ,近年とくに発展の著しい動的三次元観察やメゾスケール(nmとμmの間のスケール)の三次元イメージングに焦点を当て,これらの手法の最近の進歩について筆者らの最近の研究例を交えて紹介する.(著者抄録)

シソーラス用語： *トモグラフィー ,  *分子構造 ,  重合体 ,  *三次元測定 ,  空間 ,  電子回折 ,  X線CT ,  不均一系 ,  空間分布
準シソーラス用語： 電子線トモグラフィー

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

引用文献 (39件)：

• 1) H. Jinnai, Y. Nishikawa, and T. Nishi, Kobunshi Ronbunshu, 62, 488 (2005).
• 2) 陣内浩司, 高分子, 56, 352 (2007).
• 3) H. Jinnai, H. Morita, and K. Niihara, Kobunshi Ronbunshu, 65, 547 (2008).
• 4) M. Cormack, J. Appl. Phys., 34, 2722 (1963).
• 5) J. K. A. Radon, Math. Phys., 69, 262 (1917).

タイトルに関連する用語 (4件)： トモグラフィー ,  高分子構造 ,  観察 ,  解析