ハーメチックシールされた電磁継電器に関する加速貯蔵劣化試験と寿命延長の評価方法

SUN Bo; FENG Qiang; ZENG Shengkui

文献

J-GLOBAL ID：201302289261577652 整理番号：12A1790875

ハーメチックシールされた電磁継電器に関する加速貯蔵劣化試験と寿命延長の評価方法

Accelerated Storage Degradation Test and Life Extension Assessment Method for Hermetically Sealed Electromagnetic Relay

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資料名：
巻： 15 号： 12(B) ページ： 5847-5858 発行年： 2012年12月
JST資料番号： L7416A ISSN： 1343-4500 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

長期保存が要求される製品類には,過去からの運用実績データやテストデータの不備によりそれら製品の信頼性や寿命延長評価の手立てに苦労する。本報告は,加速貯蔵劣化試験(ASDT)および無秩序性能パラメータを利用した劣化モデルに基づく寿命延長評価法を提案する。貯蔵(保存)状態に置かれたハーメチックシール電磁継電器の典型的な故障モードと故障生起メカニズムについて解明する。接触抵抗の劣化過程(接触故障)はArrheniusモデルを用いて説明される。加速貯蔵劣化試験のなかでは接触抵抗が主要な性能パラメータとして選択される。このArrheniusモデルのなかの合成活性化エネルギーパラメータを,無秩序性能パラメータを用いた劣化モデルにより導出した。そして,過去の貯蔵環境データを勘案して,寿命延長効果と信頼性を評価している。これらの評価結果から,この電磁継電器が,航空機材用電子部品として使われる10年間の動作寿命延長の要請を満足すると判明した。(翻訳著者抄録)

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継電器・スイッチ , 固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (20件)：

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