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J-GLOBAL ID:201302291182244944   整理番号:13A1749020

孔における指向性自己集合についての散逸粒子動力学研究

Dissipative Particle Dynamics Study on Directed Self-Assembly in Holes
著者 (6件):
資料名:
巻: 8680  ページ: 86801J.1-86801J.6  発行年: 2013年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ラインと孔のモフォロジーは,プロセス条件に依存する。ブロック共重合体(BCP)の指向性自己集合(DSA)を制御する一つの方法は,前もってパターン化したトポグラフィー表面を用いるグラフォエピタキシである。所望のナノ構造を得るためには,前もって作製したパターンが最適サイズであることと最適湿潤性であることが必要である。最適な円筒プロファイルを予測するために,散逸粒子動力学シミュレーションによって,前もってパターン化した円筒孔中の重合体A及びBからなるBCPの円筒モフォロジーを報告する。重合体Bからなる円筒の構成は,下地層とBCPガイド壁の親和性の変化に伴って変化する。下地層の場合,両方の重合体種に中立であると,最も安定な円筒形状になる。親和性がどちらかの重合体に変換すると,円筒形状が歪む。ある孔のCDに関して,AウェットからBウェットへ移行するガイド壁の場合に,円筒を構成する重合体Bは徐々に緩み,最終的にガイドに積層する。さらに,円筒はウェットBに関してより大きな孔を形成する。孔のCDのための自由エネルギーも調査し,プロファイルから,Aウェット壁とBウェット壁は,それぞれ,孔CDの狭い範囲と広い範囲の孔縮小に適していることが分かる。その理由は,Aウェット壁の自由エネルギーは,孔CD変化に対して大きく変化するからである。これとは対照的に,Bウェット壁の自由エネルギーは大きな変化を示さず,プロファイルは,円筒形状がAウェット壁よりも広い範囲で比較的安定することを示す。
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 
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