パワーサイクリングによりストレスした接続線-IGBTモジュールの加齢を推定するためのリアルタイム法としてのV<sub>ce</sub>モニタリングの評価

SMET Vanessa; FOREST Francois; HUSELSTEIN Jean-Jacques; RASHED Amgad; RICHARDEAU Frederic

文献

J-GLOBAL ID：201302295515161982 整理番号：13A1149433

パワーサイクリングによりストレスした接続線-IGBTモジュールの加齢を推定するためのリアルタイム法としてのV_ceモニタリングの評価

Evaluation of V_ce Monitoring as a Real-Time Method to Estimate Aging of Bond Wire-IGBT Modules Stressed by Power Cycling

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資料名：
巻： 60 号： 7 ページ： 2760-2770 発行年： 2013年07月
JST資料番号： C0234A ISSN： 0278-0046 CODEN： ITIED6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

本稿では,パワーサイクリングと熱サイクリング下でIGBTモジュールの加齢に関する大きな作業により供給された実験結果から資本をてこ入れした。600V,200Aの20のIGBTモジュールを広範囲の熱ストレスをカバーした異なるプロトコルを適用することにより試験した。抽出した結果は,接続加齢に関するV_ce電圧感度に焦点を当てた。結果は,モジュール上の接続線とメタライゼーションの加齢に関係し,V_ceが,適切な測定期間をモジュール試験の間続けて用いた場合,直接関連する加齢指標である,ことを示した。この観測から,V_ce測定による実際の動作でIGBT素子の監視を達成する可能性をあげた。そのような実装の難しさをそれから強調した。最後の部分で,ここで用いたテストベンチに利用できる特定の解を提案した。

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トランジスタ , 固体デバイス計測・試験・信頼性

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パワーサイクリングによりストレスした接続線-IGBTモジュールの加齢を推定するためのリアルタイム法としてのVceモニタリングの評価

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