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J-GLOBAL ID：201302296310964450   整理番号：13A1768642

透過磁場検出によるスポット溶接検査法の開発

著者 (6件)： 澤井勇人 (岡山大) ,  三宅康介 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  塚田啓二 (岡山大) ,  平野佳伸 (大橋製作所)
資料名： 電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (電気・情報関連学会中国支部連合大会(CD-ROM))
巻： 62nd  ページ： 411  発行年： 2011年10月03日 
JST資料番号： L1892B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *点溶接 ,  *溶接欠陥 ,  *非破壊検査 ,  自己誘導透過 ,  電磁誘導 ,  電磁場解析 ,  磁場測定 ,  品質管理 ,  安全性 ,  磁界解析 ,  *欠陥
準シソーラス用語： *スポット溶接 ,  磁場解析 ,  磁場計測 ,  磁場分布測定 ,  電磁誘導透過 ,  *非破壊試験

分類 (3件)： 溶接欠陥  (WC07130P) ,  溶接技術  (WC07030G) ,  非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 透過 ,  磁場 ,  スポット溶接 ,  検査 ,  開発