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J-GLOBAL ID：201302296665969771   整理番号：13A1865395

高度の鏡面反射を有した曲面用の新しい自動視覚欠陥検査システムの開発

DEVELOPING A NEW AUTOMATIC VISION DEFECT INSPECTION SYSTEM FOR CURVED SURFACES WITH HIGHLY SPECULAR REFLECTION

著者 (7件)： LI Chang Jiang (Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN) ,  LI Chang Jiang (Chongqing Univ. Sci. and Technol., Chongqing, CHN) ,  ZHANG Zhong (Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN) ,  NAKAMURA Ippei (Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN) ,  IMAMURA Takashi (Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN) ,  MIYAKE Tetsuo (Toyohashi Univ. Technol., Toyohashi, JPN) ,  FUJIWARA Hisanaga (Industrial Technol. Center of Okayama Prefecture, Okayama, JPN)
資料名： International Journal of Innovative Computing, Information and Control  (International Journal of Innovative Computing, Information and Control)
巻： 8  号： 7(B)  ページ： 5121-5136  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： F1199A  ISSN： 1349-4198  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では高度の鏡面反射曲面,特にクロムめっき面,上の欠陥を検出できる自動視覚欠陥検査システムを作成する事を目的とした。これらは非常に弱い乱反射を有した強鏡面である。1つの画像中の全ての欠陥を検出する事は不可能である。何故ならば,オブジェクトが照らされている時に欠陥の形状あるいは位置はランダムなので,欠陥はハイライト領域によって被覆されているかあるいは現れないかもしれないからである。最適化した相対位置及び照明パラメ-タを有した異なった照明条件下で画像の集合を捕獲した。画像の集合において,鏡面スポットは完全面上で平滑に移動し,欠陥は光源移動としてランダムに現れる。鏡面スポットを除去した合成画像を画像の集合から再構築した。更に,欠陥を高い欠陥表現力を有した合成画像中に統合した。最後に,テンプレートマッチング及びモルフォロジー技法を組み合わせる事によって欠陥を抽出できる。提示した自動視覚欠陥検査システムを実装し,数多くのシミュレーション画像及び実際の高度鏡面部分上でテストした。励みとなる実験結果は筆者らの手法がロバスト,効果的かつ実用的である事を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *システム ,  *欠陥検査 ,  *鏡面反射 ,  曲面 ,  画像再構成 ,  モルフォロジー ,  自動化 ,  パターンマッチング
準シソーラス用語： テンプレートマッチング ,  *視覚システム

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

引用文献 (19件)：

• M. Nitta, An image processing technology trend in metal surface inspection, Journal of Denki-Seiko, vol.149, no.5, pp.379-386, 2002.
• D. Rohrmus, Invariant texture features for web defect detection and classification, SPIE Proc. of Machine Vision Systems for Inspection and Metrology VIII, Boston, MA, vol.3836, pp.144-155, 1999.
• C. Boukouvalas, J. Kittler, R. Marik and M. Petrou, Automatic grading of ceramic tiles using machine vision, Proc. of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics, pp.13-18, 1994.
• B. Denkena, H. Ahlers, F. Berg and T. Wolf, Fast inspection of larger sized curved surfaces by stripe projection, Annals of CIRP, vol.51, no.1, pp.499-502, 2002.
• D. Perard and J. Beyerer, Three-dimensional measurement of free-form,surfaces with a structured-lighting reflection technique, SPIE Conference on Machine Vision Application in Industrial Inspection, Pittsburgh (USA), vol.3204, pp.74-80, 1997.

タイトルに関連する用語 (6件)： 高度 ,  鏡面反射 ,  曲面 ,  視覚 ,  欠陥検査システム ,  開発