文献

J-GLOBAL ID：201302299714504363   整理番号：13A0310401

ナノ結晶/アモルファス複合物からのゆらぎ電子顕微鏡の分析的および計算論的モデリング

Analytical and computational modeling of fluctuation electron microscopy from a nanocrystal/amorphous composite

著者 (2件)： YI Feng (Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA) ,  VOYLES P.M. (Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 122  ページ： 37-47  発行年： 2012年11月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： ナノ結晶 ,  アモルファス ,  複合物 ,  ゆらぎ ,  電子顕微鏡 ,  計算 ,  モデリング