分光放射計の校正法

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-254053
公開番号（公開出願番号）：特開2013-108843
出願日： 2011年11月21日
公開日（公表日）： 2013年06月06日
要約：

【課題】特定の高い山でなくとも、安定的な気象条件であれば、地上付近を測定場所として実現可能な、太陽を光源とした分光放射計を校正する校正法を提供する。【解決手段】校正対象とした直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定し、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気状態を測定する。そして、大気モデルを利用して、測定場所で実測した気象データを用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを精度よく計算する。また、そのスペクトルの積分値、つまり直達日射照度を求めて、直達日射計の測定値と比べて、精度のよいスペクトルを選ぶ。そのスペクトルを仲介として、分光放射計を校正する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

人工衛星、宇宙ステーションなどの大気圏外で直接測定した太陽スペクトルを予め得るステップと、快晴かつ安定的な気象条件の地上付近を測定場所として、校正対象とした被校正直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定するとともに、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気中のエアロゾルによる光学的厚さ、可降水蒸気量、前記測定場所の気温などの大気状態を測定し、さらに、測定日における大気状態の鉛直分布およびオゾン全量を測定するステップと、前記大気圏外で直接測定した太陽スペクトルから、前記測定場所において測定した大気状態の実測値を用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを計算するステップと、前記計算で得られた直達太陽スペクトルの全波長域の積分値を計算して、その結果を前記直達日射計の同時測定値、つまり、直達太陽スペクトルの全波長域積分値の測定値と比較し、両積分値の差が一定誤差範囲を満たしたスペクトルを前記計算で得られた直達太陽スペクトルの中から選んで仲介とするステップと、前記仲介とするスペクトルと、被校正直達分光放射計で測定した直達太陽スペクトルを比較することにより被校正直達分光放射計を校正するステップ、からなる分光放射計の校正法。

IPC (2件)：

G01J 3/02 , G01J 1/02

FI (2件)：

G01J3/02 C , G01J1/02 U

Fターム (8件)：

2G020AA03 , 2G020AA04 , 2G020AA05 , 2G020BA19 , 2G020CD38 , 2G065AA15 , 2G065BB25 , 2G065DA01

引用文献：

審査官引用 (4件)

全件表示

前のページに戻る