特許
J-GLOBAL ID:201303003079513781

照射計画作成装置および照射計画作成プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 磯野 道造 ,  多田 悦夫
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2011060087
公開番号(公開出願番号):WO2011-162021
出願日: 2011年04月25日
公開日(公表日): 2011年12月29日
要約:
従来よりも短い時間で比較的ロバストな計画を得ることのできる照射計画作成方法を提供する。多門照射により強度を変調させつつペンシルビームをスキャンさせてスポット毎に重ね合わせ、放射線の照射を行う照射部位および放射線の照射を行うべきでない非照射部位を含んでなる照射対象に対して、予め入力された線量処方となるように線量分布を形成させるための照射計画を作成するにあたり、逐次近似繰り返し演算を行って評価指標値Eを導出し、当該評価指標値Eと予め設定された閾値Cとを比較して前記照射計画を作成する照射計画作成方法であって、前記逐次近似繰り返し演算は、前記第1条件および前記第2条件に加えてさらに、予め入力された照射方向から前記照射対象に与えられる前記線量分布の勾配を抑制するという第3条件を用いて前記評価指標値Eを導出する。
請求項(抜粋):
多門照射により強度を変調させつつペンシルビームをスキャンさせてスポット毎に重ね合わせ、放射線の照射を行う照射部位および放射線の照射を行うべきでない非照射部位を含んでなる照射対象に対して、予め入力された線量処方となるように線量分布を形成させるための照射計画を作成するにあたり、 入力されたペンシルビームの重みについて、予め入力された前記照射部位に対しては、予め入力された目標線量に対して必要十分な線量が与えられるという第1条件と、 予め入力された前記非照射部位に対しては、予め入力された線量制限以下に抑えるという第2条件と、 を含む逐次近似繰り返し演算を行って評価指標値を導出し、当該評価指標値と予め設定された閾値とを比較して前記照射計画を作成する照射計画作成方法であって、 前記逐次近似繰り返し演算は、前記第1条件および前記第2条件に加えてさらに、 予め入力された照射方向から前記照射対象に与えられる前記線量分布の勾配を抑制するという第3条件を用いて前記評価指標値を導出する ことを特徴とする照射計画作成方法。
IPC (1件):
A61N 5/10
FI (1件):
A61N5/10 Q
Fターム (5件):
4C082AA01 ,  4C082AC04 ,  4C082AE01 ,  4C082AG24 ,  4C082AN04

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