特許
J-GLOBAL ID:201303008249940169

ナノワイヤベースの透明導体およびそれをパターン形成するための方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-555116
公開番号(公開出願番号):特表2013-522814
出願日: 2011年02月23日
公開日(公表日): 2013年06月13日
要約:
ナノワイヤをベースとする透明導体をパターン化する方法を説明する。特に、本方法は、低可視または不可視パターンを生成する、部分的エッチングを対象とする。一実施形態は、基板と、複数の相互接続ナノ構造を含む、基板上の導電性膜であって、導電性膜上のパターンは、(1)第1の抵抗率と、第1の透過率と、第1の曇価と、を有する、エッチングされていない領域と、(2)第2の抵抗率と、第2の透過率と、第2の曇価と、を有する、エッチングされた領域と、を画定する、導電性膜と、を含み、エッチングされた領域は、エッチングされていない領域より低導電性であって、第1の抵抗率対第2の抵抗率の比率は、少なくとも1000であって、第1の透過率は、第2の透過率と5%未満だけ異なる、光学的に均一な透明導体を説明する。
請求項(抜粋):
光学的に均一な透明導体であって、 基板と、 前記基板上の導電性膜であって、前記導電性膜は、複数の相互接続ナノ構造を含み、前記導電性膜上のパターンは、(1)第1の抵抗率と、第1の透過率と、第1の曇価とを有するエッチングされていない領域と、(2)第2の抵抗率と、第2の透過率と、第2の曇価とを有するエッチングされた領域とを画定する、導電性膜と を含み、 前記エッチングされた領域は、前記エッチングされていない領域より低導電性であり、前記第1の抵抗率対前記第2の抵抗率の比率は、少なくとも1000であり、前記第1の透過率は、前記第2の透過率と5%未満だけ異なる、導体。
IPC (8件):
H01B 5/14 ,  H01L 31/04 ,  H01M 14/00 ,  H01L 21/306 ,  H01L 21/308 ,  C23F 1/30 ,  H01B 13/00 ,  G02F 1/134
FI (9件):
H01B5/14 B ,  H01L31/04 M ,  H01M14/00 P ,  H01L21/306 F ,  H01L21/308 F ,  C23F1/30 ,  H01B13/00 503D ,  G02F1/1343 ,  H01L31/04 H
Fターム (45件):
2H092GA29 ,  2H092JA25 ,  2H092JA26 ,  2H092JA46 ,  2H092JB13 ,  2H092JB63 ,  2H092JB79 ,  2H092KA04 ,  2H092KA05 ,  2H092KA07 ,  2H092KA09 ,  2H092KB12 ,  2H092KB14 ,  2H092MA04 ,  2H092MA17 ,  2H092NA14 ,  2H092NA28 ,  2H092PA08 ,  2H092QA07 ,  4K057WB01 ,  4K057WB17 ,  4K057WE02 ,  4K057WE08 ,  4K057WE25 ,  4K057WG03 ,  4K057WN01 ,  5F043AA22 ,  5F043BB15 ,  5F043GG02 ,  5F151AA09 ,  5F151AA10 ,  5F151CB21 ,  5F151FA02 ,  5G323CA01 ,  5G323CA04 ,  5G323CA05 ,  5H032AA06 ,  5H032BB05 ,  5H032BB07 ,  5H032CC09 ,  5H032CC11 ,  5H032EE07 ,  5H032EE18 ,  5H032HH07 ,  5H032HH08
引用特許:
審査官引用 (1件)

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