特許
J-GLOBAL ID：201303009705187199

走査光学装置および画像形成装置

発明者：
中畑 浩志

中畑 浩志 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-077264
公開番号（公開出願番号）：特開2013-242536
出願日： 2013年04月02日
公開日（公表日）： 2013年12月05日
要約：
【課題】複数の光ビームを同時に走査する走査光学装置において複数の光ビームのそれぞれについて温度に応じて倍率を補正する。【解決手段】複数の光ビームLD1〜LDnは同時に感光ドラム21の表面を走査する。感光ドラム21の表面は曲率を有しているため、複数の光ビームLD1〜LDnの各光路長は異なっている。たとえば、光ビームLD1の光路長と光ビームLDnの光路長との差はΔLである。光路長の差に起因して、光ビームLD1の走査線の長さ(倍率)と光ビームLDnの走査線の長さとは異なっている。さらに、走査光学装置の温度が上昇すると光路長の差がΔL’に変化するため、ビーム間での倍率の差も変化してしまう。そこで、温度に応じた倍率の補正量を求めることで、走査光学装置の温度が変化しても複数の光ビームLD1〜LDnの倍率を一定に維持する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
走査光学装置と補正手段とを有する画像形成装置であって、 前記走査光学装置は、 回転駆動される感光体上を露光するための光ビームを入力画像データに基づいて出力する複数の発光素子を備える光源であって、前記複数の発光素子が、前記複数の発光素子から出力される複数の前記光ビームが前記感光体の回転方向の異なる位置を露光するように配列されている、前記光源と、 前記走査光学装置の内部に取り付けられ、前記複数の発光素子から出力される前記複数の光ビームが前記感光体上を走査するように前記複数の光ビームを偏向する偏向手段と、 前記走査光学装置の内部に取り付けられ、前記偏向手段によって偏向された前記複数の光ビームを前記感光体に導くレンズと、 前記走査光学装置の内部の温度を検知する温度検知手段とを有し、 前記補正手段は、 前記複数の光ビームが前記感光体上を走査する走査方向において前記入力画像データに基づいて前記複数の発光素子から出力される前記複数の光ビームの走査幅が均一になるように、前記温度検知手段の検知結果に基づいて、前記入力画像データに基づいて前記複数の発光素子それぞれから出射される前記複数の光ビームのうちの少なくとも1つの光ビームの走査幅を補正することを特徴とする画像形成装置。
IPC (7件)：
G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  H04N 1/113 ,  G03G 21/14 ,  G03G 15/041 ,  G03G 15/04 ,  G03G 15/043
FI (6件)：
G02B26/10 B ,  B41J3/00 M ,  H04N1/04 104A ,  G03G21/00 372 ,  G03G15/04 117 ,  G03G15/04 120
Fターム (49件)：
2C362AA07 ,  2C362BA04 ,  2C362BA48 ,  2C362BA56 ,  2C362BA68 ,  2H045AA01 ,  2H045AB00 ,  2H045BA02 ,  2H045BA23 ,  2H045BA32 ,  2H045CA97 ,  2H045DA04 ,  2H045DA26 ,  2H076AB02 ,  2H076AB05 ,  2H076AB06 ,  2H076AB16 ,  2H076AB18 ,  2H076AB33 ,  2H076AB67 ,  2H076AB68 ,  2H076AB72 ,  2H076AB76 ,  2H076DA10 ,  2H076EA01 ,  2H270LA18 ,  2H270LA24 ,  2H270LD03 ,  2H270LD05 ,  2H270LD08 ,  2H270LD15 ,  2H270MC19 ,  2H270MC20 ,  2H270MC23 ,  2H270MC24 ,  2H270MD02 ,  2H270MD05 ,  2H270MH09 ,  2H270ZC03 ,  2H270ZC04 ,  5C072BA12 ,  5C072HA02 ,  5C072HA06 ,  5C072HA09 ,  5C072HA13 ,  5C072HB01 ,  5C072HB11 ,  5C072QA14 ,  5C072XA05
引用特許：
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM