特許
J-GLOBAL ID：201303011309275039

非接触給電システムの金属異物検出方法、非接触給電装置、電気機器に設けられた受電装置及び非接触給電システム

発明者：
後藤 弘通

後藤 弘通 について


出願人/特許権者：
パナソニック株式会社

パナソニック株式会社 について


代理人 (2件)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-183938
公開番号（公開出願番号）：特開2013-046526
出願日： 2011年08月25日
公開日（公表日）： 2013年03月04日
要約：
【課題】給電エリアの広い範囲において小さな金属異物の高精度に検出ができる非接触給電システムの金属異物検出方法、非接触給電装置、電気機器に設けられた受電装置及び非接触給電システムを提供する。【解決手段】給電エリアに設けた1次コイルL1と1次側認証用コイルA1がそれぞれ異なるように配置するとともに、受電エリアに設けた2次コイルL2と2次側認証用コイルA2がそれぞれ異なるように配置されている。そして、1次コイルL1からの送電用発振信号に基づいて1次コイルL1と2次コイルL2の間の金属異物の有無検出をするとともに、1次側認証用コイルA1からの認証用発振信号に基づいて1次側認証用コイルA1と2次側認証用コイルA2の間の金属異物の有無検出をする。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
1つ以上の給電エリアを備え、その給電エリアに1次コイルと1次側認証用コイルを設けた非接触給電装置と、 1つ以上の受電エリアを備え、その受電エリアに前記1次コイルと相対向するように2次コイルを設けるとともに、前記1次側認証用コイルと相対向するように2次側認証用コイルを設けた受電装置を有した電気機器とからなり、 前記1次側認証用コイルからの認証用発振信号に基づく前記2次側認証用コイルから発振される認証信号を前記1次側認証用コイルが受信し認証した後、前記1次コイルから発振される送電用発振信号を前記2次コイルに2次電力として給電する非接触給電システムの金属異物検出方法であって、 前記給電エリアに設けた1次コイルと1次側認証用コイルをそれぞれ異なるように配置するとともに、前記受電エリアに設けた2次コイルと2次側認証用コイルをそれぞれ異なるように配置し、 前記1次コイルからの前記送電用発振信号に基づいて前記1次コイルと前記2次コイルの間の金属異物の有無検出をするとともに、前記1次側認証用コイルからの前記認証用発振信号に基づいて前記1次側認証用コイルと2次側認証用コイルの間の金属異物の有無検出をすることを特徴とする非接触給電システムの金属異物検出方法。
IPC (2件)：
H02J 17/00 ,  H01F 38/14
FI (3件)：
H02J17/00 X ,  H02J17/00 B ,  H01F23/00 B
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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