光ファイバ位置特定のための光学マーキング部を備えた光ファイバセンサおよび光ファイバセンサの計測方法と光ファイバセンサ装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (5件)：志賀正武 , 棚井澄雄 , 五十嵐光永 , 小室敏雄 , 清水雄一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-031339
公開番号（公開出願番号）：特開2013-127479
出願日： 2013年02月20日
公開日（公表日）： 2013年06月27日
要約：

【課題】ひずみや温度変化が生じた光ファイバ位置を高い空間分解能で特定できる光ファイバセンサを提供する。【解決手段】ファイバブラッググレーティングからなるひずみや温度変化を計測するための複数のセンシング部1と、これら複数のセンシング部1の間に設けられ、ひずみや温度変化をセンシングした光ファイバ位置特定のための光学マーキング部3を備える光ファイバセンサSを提供する。光学マーキング部3は、ファイバブラッググレーティングが配置されておらず、その長さは0.6mm以上、2mm以下である。光ファイバセンサ装置Kは、光ファイバセンサSを計測して光学マーキング部3の光ファイバ位置を特定するとともに、光学マーキング部3を基準の光ファイバ位置とし、該基準の光ファイバ位置からの光路長差からひずみや温度変化をセンシングした光ファイバ位置を特定する制御装置を備えている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光ファイバのコアに形成したファイバブラッググレーティングをセンサとし、該センサからのブラッグ反射光と参照用の反射端からの反射光の干渉強度の周期的変化から、前記センサの位置を特定するとともに、前記センサからのブラッグ反射光の波長の変化量から検知部のひずみや温度変化を計測する光周波数領域反射測定(OFDR)方式の光ファイバセンサ装置に用いられる光ファイバセンサであって、ファイバブラッググレーティングからなるひずみや温度変化を計測するための複数のセンシング部と、これら複数のセンシング部の間に設けられ、ひずみや温度変化をセンシングした光ファイバ位置特定のための光学マーキング部を備え、前記光学マーキング部は、ファイバブラッググレーティングが配置されておらず、その長さは0.6mm以上、2mm以下であり、前記光ファイバセンサ装置は、前記光ファイバセンサを計測して前記光学マーキング部の光ファイバ位置を特定するとともに、前記光学マーキング部を基準の光ファイバ位置とし、該基準の光ファイバ位置からの光路長差からひずみや温度変化をセンシングした光ファイバ位置を特定する制御装置を備えていることを特徴とする光ファイバセンサ。

IPC (2件)：

G01D 5/353 , G01B 11/16

FI (2件)：

G01D5/353 C , G01B11/16 G

Fターム (36件)：

2F065AA02 , 2F065AA06 , 2F065DD03 , 2F065DD04 , 2F065FF12 , 2F065FF18 , 2F065FF31 , 2F065FF51 , 2F065GG04 , 2F065GG23 , 2F065GG25 , 2F065JJ18 , 2F065NN06 , 2F065QQ16 , 2F065QQ28 , 2F065QQ44 , 2F103BA04 , 2F103BA10 , 2F103BA37 , 2F103BA46 , 2F103CA03 , 2F103CA04 , 2F103CA08 , 2F103DA01 , 2F103DA12 , 2F103EA02 , 2F103EB02 , 2F103EB05 , 2F103EB12 , 2F103EB19 , 2F103EC09 , 2F103EC10 , 2F103ED27 , 2F103FA00 , 2F103FA04 , 2F103FA15

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