特許
J-GLOBAL ID：201303014865078039

半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法

発明者：
杉村 直昭

杉村 直昭 について


出願人/特許権者：
ラピスセミコンダクタ株式会社

ラピスセミコンダクタ株式会社 について


代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-060897
公開番号（公開出願番号）：特開2013-195157
出願日： 2012年03月16日
公開日（公表日）： 2013年09月30日
要約：
【課題】計測手段の自己診断を適切に行うことができる、半導体回路、電池監視システム、診断プログラム、及び診断方法を提供することを目的と【解決手段】各電源線V(Vn、Vn-1)、セル選択SW32、及びレベルシフタ回路40を介してADコンバータ42から出力された出力値(A-B)と、直接入力された基準電圧BがADコンバータ42から出力された出力値(B)とを加算し、加算値が基準電圧Aと同一であるとみなせる場合は、故障等の異常が生じていないと診断する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
直列に接続された複数の電池の各々に接続された複数の電源線と、 前記複数の電源線から二つの電源線を選択する選択手段と、 アナログ信号をデジタル信号に変換する変換手段を有し、前記選択手段により選択された二つの電源線に流れる電気信号が入力された場合は、当該二つの電源線に流れる電気信号の差分をデジタル信号に変換して出力する計測手段と、 前記計測手段から出力されたデジタル信号に対して予め定められた演算を行い、演算結果に応じた電気信号を出力する演算手段と、 前記複数の電源線のうちから、第1基準電圧に応じた電気信号が流れる電源線と、前記第1基準電圧と異なる第2基準電圧に応じた電気信号が流れる電源線とを選択するように前記選択手段を制御する第1制御、及び前記第2基準電圧に応じた電気信号をデジタル信号に変換させて出力するように前記計測手段を制御する第2制御を行う制御手段と、 を備えた半導体回路。
IPC (1件)：
G01R 19/00
FI (1件)：
G01R19/00 B
Fターム (6件)：
2G035AB03 ,  2G035AC01 ,  2G035AD11 ,  2G035AD44 ,  2G035AD47 ,  2G035AD65
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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