特許
J-GLOBAL ID：201303015816195212
イオントラップ質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-247773
公開番号（公開出願番号）：特開2013-104741
出願日： 2011年11月11日
公開日（公表日）： 2013年05月30日
要約：
【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似MS3測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するMS1スペクトルを取得するとともに、同試料に対しMS2スペクトルを取得する(S1、S2)。そして、MS2スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全MS1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似MS3測定対象イオンとして抽出する(S3)。全MS1スペクトルの中で擬似MS3測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似MS3測定を実施し、擬似MS3スペクトルを取得する(S4、S5)。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
イオンを捕捉するイオントラップを有し該イオントラップに捕捉されたイオンを解離させてMSn分析(nは2以上の整数)を実施することが可能なイオントラップ質量分析装置であって、広い質量電荷比範囲をカバーするために測定対象の質量電荷比範囲が異なる複数の測定モードが用意され、該複数の測定モードの中の選択された測定モードの下で質量分析が実行されるイオントラップ質量分析装置において、
a)全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲をカバーする複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対して質量分析を実行することにより、複数のMS1スペクトルを取得するMS1測定実行手段と、
b)目的試料に対しMS2分析を実行することによりMS2スペクトルを取得するMS2測定実行手段と、
c)前記MS2スペクトルに現れるピークと同一の質量電荷比であるピークを前記複数のMS1スペクトルから抽出することにより擬似MS3測定対象のイオンを決定する擬似MS3測定対象イオン決定手段と、
d)前記擬似MS3測定対象イオン決定手段により決定されたイオンをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行することにより擬似MS3スペクトルを取得する擬似MS3測定実行手段と、
を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, H01J 49/42
, H01J 49/10
G01N27/62 E
, H01J49/42
, H01J49/10
, G01N27/62 G
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041FA10
, 2G041GA08
, 2G041GA10
, 2G041KA01
, 5C038GG07
, 5C038GG13
, 5C038JJ06
, 5C038JJ11
