特許
J-GLOBAL ID：200903019789859653

質量分析装置

発明者：
岩本 慎一

岩本 慎一 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-051586
公開番号（公開出願番号）：特開2005-243426
出願日： 2004年02月26日
公開日（公表日）： 2005年09月08日
要約：
【課題】 ガスの使用目的や、試料の質量数等に応じて、衝突部に導入するガスを適宜選択することが可能な質量分析装置を提供する。 【解決手段】 試料をイオン化するイオン化部と、試料イオンを質量分離・検出する質量分析部と、装置全体の動作を制御する制御部とを有する質量分析装置において、イオン化部で生成された試料イオンが質量分析部に導入されるまでのイオン経路に設けられた衝突部と、二種以上のガスから選択される一種以上のガスを該衝突部に導入するガス導入手段を設ける。このような装置を用いて分析を行うことにより、精度の高い質量分析が行えるようになる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料をイオン化するイオン化部と、試料イオンを質量分離・検出する質量分析部とを有する質量分析装置において、イオン化部で生成された試料イオンが質量分析部に導入されるまでのイオン経路に設けられた衝突部と、二種以上のガスから選択される一種以上のガスを該衝突部に導入する選択ガス導入手段と、選択ガス導入手段の動作を制御する制御部とを備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J49/06 ,  G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  H01J49/40
FI (5件)：
H01J49/06 ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 K ,  G01N27/64 B ,  H01J49/40
Fターム (1件)：
5C038FF13
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 米国特許第4234791号明細書
  • イオントラップ型質量分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-379683   出願人：株式会社島津製作所
  • 米国特許第5202563号明細書
審査官引用 (7件)
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