計測装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松本洋一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-002477
公開番号（公開出願番号）：特開2013-083668
出願日： 2013年01月10日
公開日（公表日）： 2013年05月09日
要約：

【課題】破損した校正値の修復時間を節約し、計測装置が稼動状態のまま校正値を更新できる計測装置を提供すること。また、校正値の更新による不揮発性メモリの劣化を防ぐ長寿命な計測装置を提供すること。【解決手段】グループ分類された校正値およびこのグループ分類された各校正値のSUM値をそれぞれメモリに保持させ、計測装置の初期化中に、各校正値に対応する各SUM値を求め、求めた各SUM値とメモリに保持させた各SUM値とを比較し、相違したSUM値に対応するグループを通知する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した入力信号を生成する入力部と、この入力部が生成した前記入力信号を校正する校正値を保持する記億部と、この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部と、を具備した計測装置であって、前記記憶部は、前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを前記入力部に接続される前記被計測対象の機器ごとに分類してそれぞれ保持し、前記変換部は、前記計測装置の初期起動時に、前記分類して保持された校正値毎に各校正値の正当性を検証するチェックコードをそれぞれ算出するチェックコード算出手段と、このチェックコード算出手段によって算出された複数の前記チェックコードと該チェックコードに対応する前記第一のチェックコードとをそれぞれ比較するチェックコード比較手段と、前記チェックコード比較手段によってチェックコードが相違したと判定されたとき、相違した前記チェックコードが含まれる前記グループを通知する通知手段と、を備えることを特徴とする計測装置。

IPC (2件)：

G01D 18/00 , G08C 25/00

FI (2件)：

G01D18/00 , G08C25/00 H

Fターム (20件)：

2F073AA02 , 2F073AB01 , 2F073BB04 , 2F073BB07 , 2F073CC03 , 2F073CC05 , 2F073CC08 , 2F073DD02 , 2F073EE03 , 2F073EF01 , 2F073EF09 , 2F073FG01 , 2F073FG02 , 2F073FG03 , 2F073GG01 , 2F073GG03 , 2F073GG08 , 2F076AA02 , 2F076AA05 , 2F076AA18

引用特許：

出願人引用 (5件)

データ処理装置及び物理量測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-141374 出願人：横河電機株式会社
情報制御装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-305050 出願人：株式会社日立製作所
計測器
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-261070 出願人：横河電機株式会社

全件表示

前のページに戻る